上海精科　UV760CRT紫外可見分光光度計

型號：UV760CRT紫外可見分光光度計

品牌：上海精科

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上海精科

上海儀電分析儀器有限公司（原上海精密科學儀器有限公司分析事業(yè)部獨立改制而成，其前身是上海分析儀器廠和上海第三分析儀器廠），系上海儀電控股（集團）公司的控股子公司，上海首批高新技術(shù)企業(yè)。是國內(nèi)極大的分析儀器制造公司之一。公司是集分析儀器的設(shè)計、開發(fā)、制造和服務(wù)為一體的高科技企業(yè)，2...[查看更多]

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上海精科UV760CRT紫外可見分光光度計由愛儀器儀表網(wǎng)代理，本產(chǎn)品高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯(lián)系我們!

產(chǎn)品簡介：
?采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好
?微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)

產(chǎn)品特點：
?功能極強的光譜處理能力
?光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）

軟件特點：
?信息存貯容量大，保存方便
?軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導數(shù)運算
?圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如
?時間掃描可進行動力學研究
?定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用
?軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試
?可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件
?打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印

測光方式	雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測
波長范圍	190nm～900nm
分辯率	優(yōu)于0.15nm
光譜帶寬	0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
波長*大允許誤差	0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）
波長重復(fù)性	0.2nm
雜散光	0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
透射比*大允許誤差	（以NBS930D測定）
透射比重復(fù)性	0.2%（T）
掃描速度	快、中、慢
穩(wěn)定性	0.004A/30min
噪聲	0.3%（*處）;0.1%（0%處）